IM7583日本日置HIOKI阻抗分析仪
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：快0.5ms
● 测量频率：1MHz~600MHz
● 测量时间：快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
IM7583日本日置HIOKI阻抗分析仪
基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年）
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
| 测量频率 | 1 MHz~600 MHz (设置分辨率100kHz) |
| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | 快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
自动化元器件检测SH-WRJ0002
背景
被动元器件，在5G和新能源车、消费类电子产品升级的带动下，需求量越来越大。MLCC、厚膜电阻等，不管是产品的功率、还是对小尺寸产品的追求。客户对产线设备的要求是，高速、高精度，高一致性的测试设备。
具体应用
根据被动元器件CJ产线的产量及良率要求，高速评价元器件特性（L/C/R/Z/Q等），测试数据分等级批次一次完成。配套测包机系统，兼顾系统兼容性和小尺寸治具。
使用仪器
LCR IM3536
高频阻抗分析仪 IM7580系列
微电阻计 RM3545
高阻计 SM7110