IM7580A日本日置HIOKI阻抗分析仪
快0.5ms,高速、高稳定测量,节省空间的半个机架大小
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间:快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
IM7580A日本日置HIOKI阻抗分析仪
基本参数
测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
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测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
测量时间 | 快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) × |
自动化元器件检测SH-WRJ0002
背景
被动元器件,在5G和新能源车、消费类电子产品升级的带动下,需求量越来越大。MLCC、厚膜电阻等,不管是产品的功率、还是对小尺寸产品的追求。客户对产线设备的要求是,高速、高精度,高一致性的测试设备。
具体应用
根据被动元器件CJ产线的产量及良率要求,高速评价元器件特性(L/C/R/Z/Q等),测试数据分等级批次一次完成。配套测包机系统,兼顾系统兼容性和小尺寸治具。
使用仪器
LCR IM3536
高频阻抗分析仪 IM7580系列
微电阻计 RM3545
高阻计 SM7110